X-RAY無(wú)損測(cè)厚儀
韓國(guó)微先鋒系列MicroPioneerXRF-2020鍍層測(cè)厚儀
型號(hào)
XRF-2020H型:機(jī)箱容納產(chǎn)品高12cm內(nèi)
XRF-2020L型: 機(jī)箱容納產(chǎn)品高3cm內(nèi)
使用范圍:
1、可測(cè)試單鍍層,雙鍍層,多鍍層及合金鍍層厚度;
2、單層:如各種底材上鍍鎳,鍍鋅,鍍銅,鍍銀,鍍錫,鍍金等;
3、雙層:如銅上鍍鎳再鍍金,銅上鍍鎳再鍍銀,鐵上鍍銅再鍍鎳等;
4、多層:如ABS上鍍銅鍍鎳再鍍鉻,鐵上鍍銅鍍鎳再鍍金等;
5、合金鍍層:鐵上鍍鋅鎳,銅上鍍鎳磷等;
6、檢測(cè)電子電鍍,五金電鍍,LED支架,端子連接器,半導(dǎo)體等電鍍層厚度;
應(yīng)用 :測(cè)量電鍍鍍層厚度。
行業(yè) :五金類、螺絲類、 PCB 類、連接器端子類行業(yè)、電鍍類等。
特點(diǎn) :
1、非破壞,非接觸式無(wú)損測(cè)量,快速精準(zhǔn)。
2、可測(cè)量高達(dá)六層的鍍層 (五層厚度 + 底材 )
3、兼容Microsoft微軟作業(yè)系統(tǒng)之測(cè)量軟體,操作方便,直接可用Office軟體編輯報(bào)告。