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電鍍層測(cè)厚儀X-RAY膜厚儀

更新時(shí)間:2024-11-02

簡(jiǎn)要描述:

鍍層測(cè)厚儀韓國(guó)XRF-2020功能及系統(tǒng)結(jié)構(gòu)
檢測(cè)電子電鍍,五金電鍍,LED支架,端子連接器,半導(dǎo)體等電鍍層厚度
電鍍層測(cè)厚儀X-RAY膜厚儀

電鍍層測(cè)厚儀X-RAY膜厚儀

 

韓國(guó)Micro pioneer XRF-2020系列

 

配置及功能

 

測(cè)量電鍍層厚度

系統(tǒng)結(jié)構(gòu) :

機(jī)箱,專(zhuān)用分析電腦,液晶顯示屏,色打印機(jī)

機(jī)尺寸

610 x 670 x 600 mm

機(jī)箱重 : 約75 公斤

配件重量 : 約 35 公斤

樣品臺(tái)承重:5KG

 

以滑鼠移動(dòng)方式,驅(qū)動(dòng) XYZ 三動(dòng),步進(jìn)馬達(dá)

XYZ 片臺(tái)移動(dòng)尺寸

200 x 150 x 100 mm

 

準(zhǔn)直一個(gè)

可選0.1, 0.2, 0.3, 0.4, 0.05*0.4mm

 

件包括 視察軟件,

系統(tǒng)軟件包括,測(cè)量,統(tǒng)計(jì) 

 

系統(tǒng)功能

測(cè)單層,雙層或多層或合金層電鍍厚度

 

標(biāo)準(zhǔn)規(guī)格

自動(dòng)雷射對(duì)焦,XYZ全自動(dòng)XYZ片臺(tái)

自動(dòng)調(diào)整檔案功能,電鍍藥液測(cè)量.元素配對(duì).

 

主機(jī)箱:

輸入電壓力:AC220V± 10% 50/60HZ

溝通方法:RS-232C

溫度控制:前置放大及機(jī)箱溫度控制

對(duì)焦:雷射對(duì)焦

 

安全裝置:如測(cè)量中機(jī)箱門(mén)打開(kāi),X射線0.5秒內(nèi)自動(dòng)關(guān)閉

表面泄漏:少于1usv

多通道分析

通道數(shù)量:1024ch

脈沖處理:微電腦高速處理器

 

X射線源

X射線管:油冷

高壓:0-50KV(程控)

管電流0-1mA(程控)

目標(biāo)杷:W靶

 

校正及應(yīng)用:單鍍層,雙鍍層,合金鍍層,標(biāo)準(zhǔn)樣品再校正

2D,3D隨機(jī)位置測(cè)量

2D:均距表面測(cè)量

3D:表面排列處理測(cè)量

隨機(jī)位置:任意設(shè)定測(cè)量點(diǎn)

 

檢測(cè)器:正比計(jì)數(shù)器

檢測(cè)器濾片:CO或Ni(選項(xiàng))

 

X-Y-Z三軸樣品臺(tái)

操作模式:高速精密馬達(dá),可控制加減速度

2D,3D隨機(jī)定位,鼠標(biāo)定定,樣品臺(tái)視窗控制,程控定位

機(jī)箱門(mén)打開(kāi)關(guān)閉Y軸自動(dòng)感應(yīng)

 

統(tǒng)計(jì)功能:打印報(bào)告可顯示zui大/zui小值,位移,平均值,標(biāo)準(zhǔn)差,測(cè)量位置圖片顯示及Bar圖表等

多種測(cè)量報(bào)表模式可選(可插入公司標(biāo)志及客戶(hù)名稱(chēng))

 

韓國(guó)MicroPioneer

?XRF-2020測(cè)試范圍   

 

鍍金:0.03-6um

鍍鈀:0.03-6um

鍍鎳:0.5-30um

鍍錫:0.3-50um

鍍銀:0.1-50um

鍍鉻:0.5-30um

鍍鋅:0.5-30um

鍍鋅鎳合金:0.5-30um

 

可測(cè)試單鍍層,雙鍍層,多鍍層及合金鍍層厚度

單層:如各種底材上鍍鎳,鍍鋅,鍍銅,鍍銀,鍍錫,鍍金等

雙層:如銅上鍍鎳再鍍金,銅上鍍鎳再鍍銀,鐵上鍍銅再鍍鎳等

多層:如ABS上鍍銅鍍鎳再鍍鉻,鐵上鍍銅鍍鎳再鍍金等?合金鍍層:

鐵上鍍鋅鎳,銅上鍍鎳磷等

 

原產(chǎn)地:韓國(guó)

品牌:Micropioneer微先鋒

型號(hào):XRF-2000已升級(jí)為XRF-2020

 

XRF-2000測(cè)厚儀?精度

 

首層:±5%

第二層:±8%

第三層:±15%

 

韓國(guó)MicropioneerXRF-2000測(cè)厚儀型號(hào):

 

XRF-2020H型:測(cè)量樣品高度不超過(guò)12cm

XRF-2020L型:測(cè)量樣品高度不超過(guò)3cm

XRF-2020PCB型:測(cè)量樣品高度不超3cm

 

電鍍層測(cè)厚儀X-RAY膜厚儀

 

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